Control de temperatura VCSEL con TEC: filtro promedio ADC vs promedio móvil

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Tengo que controlar la temperatura de un VCSEL con un TEC DIE y un controlador PID dentro de un FPGA. El ADC utilizado para muestrear el voltaje a través de un NTC en el DIE ofrece una tasa de muestreo de 1MSPS y la señal parece bastante ruidosa. Para mejorar SNR y resolución quiero promediar más de n muestras. Ahora hay básicamente 2 opciones:

  1. Promedie sobre n muestras y envíe los datos cada n / 1MHz al controlador.
  2. Use un promedio móvil y actualice la salida del controlador cada 1 / 1MHz.

Sin considerar el espacio FPGA, etc. Ahora me pregunto: ¿Qué opción proporcionaría un mejor rendimiento del controlador? ¿Es posible que, en cualquier caso, la construcción de un promedio empeorará el rendimiento del controlador?

Gracias.

    
pregunta Andy Ef

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