Tengo que controlar la temperatura de un VCSEL con un TEC DIE y un controlador PID dentro de un FPGA. El ADC utilizado para muestrear el voltaje a través de un NTC en el DIE ofrece una tasa de muestreo de 1MSPS y la señal parece bastante ruidosa. Para mejorar SNR y resolución quiero promediar más de n muestras. Ahora hay básicamente 2 opciones:
- Promedie sobre n muestras y envíe los datos cada n / 1MHz al controlador.
- Use un promedio móvil y actualice la salida del controlador cada 1 / 1MHz.
Sin considerar el espacio FPGA, etc. Ahora me pregunto: ¿Qué opción proporcionaría un mejor rendimiento del controlador? ¿Es posible que, en cualquier caso, la construcción de un promedio empeorará el rendimiento del controlador?
Gracias.