Permítanme comenzar por "El chip pequeño tiene especificaciones X y el gran matriz de la misma compañía tiene mejores especificaciones" no es un argumento para ningún fabricante. Por supuesto, el troquel más grande y más caro tendrá mejor material en muchas dimensiones.
Pero, ¿estás usando canales bipolares o de un solo extremo? La página que está viendo es la limitación de los canales bipolares, posiblemente debido a alguna etapa interna.
Dos páginas más arriba, dice para canales de terminación única "Aref External = 2.0V to AVcc".
El hecho de que una pista de referencia interna tenga una determinada opción tampoco es un argumento válido, ya que no conoce todas las rutas internamente en el chip. Así que no puedes simplemente decir "Si lo hago cambiar internamente, puede hacerlo, pero externamente no, eso es una tontería, lo haré externamente", porque internamente también puede cambiar algunas etapas, que funcionan mejor, pero hay que tener una relación difícil con VCC para poder hacer eso. Puede que no sea probable, pero es posible.
Entonces, si lo intentas con canales bipolares y en ninguna otra parte puedes encontrar una limitación para su uso que también implique un Vref más bajo y esto es algo que quieres producir más de uno, entonces al menos deberías probarlo. a más límites de lo que nunca irá en el mundo real.
Por ejemplo, si lo hace para -20 ° C a +50 ° C, debe verificarse que funcione correctamente durante períodos prolongados de -25 ° C a +60 ° C. Como tal, también con la tensión de alimentación de entrada principal. Si la placa está diseñada para 11V a 13V, necesita pruebas para 10V a 15V, o algo así. Y no solo por un minuto, sino al menos la mayor parte del día en cada extremo y posiblemente varios puntos intermedios.
Y para una prueba adecuada, debe probar cada parámetro con cada configuración posible para cada otro parámetro. Es decir. 10V a 15V en incrementos de 1V o 0.5V, medio día cada uno a cada temperatura entre -25 y +60 en incrementos de 5 grados, en el ejemplo anterior.
Y eso debe hacerse con varios elementos seleccionados aleatoriamente de cada ejecución de producción.
EDITAR:
Sería sensato realizar pruebas de este tipo con un poco menos de rigor, incluso si se mantiene dentro de los parámetros de la hoja de datos para todas las partes. Pero entonces es probable que pueda ceñirse a "Probar todos los voltajes durante un par de minutos a una temperatura por debajo de cero, una por encima de la temperatura ambiente y la temperatura ambiente". A menos que sea una parte muy crítica, por supuesto.
