¿Punto de capa delgada de SiO2 para microstrip de superficie?

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Al leer algunas revistas científicas, observé que los grupos de investigación a menudo usan una oblea de silicio con una constante dieléctrica / permisividad relativa adecuada y luego construyen una microstrip (SGS coplanar o SG con borde acoplado) en la litografía. Mientras vi que simplemente puede pedir una oblea de silicona dopada con alta resistencia (> 5000 Ohm cm), me pregunto cuál es el punto de una capa de superficie de SiO2 tan delgada (300-1000 nm)?

Y si calcula la impedancia de una guía de onda de este tipo en este sustrato, ¿sigue utilizando la constante dieléctrica del sustrato de silicio grueso (alrededor de 400 um) (alrededor de 11.9), o la del SiO2 delgado? Los grupos operan esta guía de onda a bajo voltaje, alimentando voltaje con picoprobes en las guías de onda estructuradas litográficamente.

    
pregunta electric_eddie

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Presumiblemente, su guía de onda tendrá que ser conductora para transportar la señal. Así que el uso de alta resistividad de Si no te va a ayudar. Lo que necesita es una resistividad lateral baja (altamente conductora), mientras que la conducción vertical es baja (alta resistividad).

En la tecnología de semiconductores, tiene dos mecanismos de aislamiento: 1) aislamiento dieléctrico (es decir, aislante) y 2) aislamiento de la unión. Creo que el aislamiento dieléctrico es obvio en su contexto, usted tiene una capa delgada de SiO2 para mantener la capa metálica y el sustrato separados. El aislamiento de la unión significa que usted formaría una unión a través de la implantación de dopantes y la conversión del sustrato en una polaridad opuesta. Lo que usted estaría construyendo es un diodo extendido con muy probablemente una región conductora de tipo N en un sustrato de tipo P. Los diodos tienen capacitancia que también es variable de voltaje. Al hacer esto, obtendrías una capacitancia más alta que, debido a su no linealidad, podría causar distorsión (dependiendo de cómo lo operes).

Modelar esto significa como una buena aproximación de primer orden de usar el dieléctrico del sustrato de Si como sugiere, dependiendo de sus parámetros, es posible que tenga que traer el di-eléctrico (SiO2) pero el la permitividad del SI es tan alta que las líneas de E-Field serán succionadas en eso.

    
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