El nivel de la señal de salida de cualquier DAC tiene un valor RMS constante hasta que la frecuencia de la señal de entrada es la mitad de la frecuencia de muestreo; luego comienza el aliasing porque la primera imagen y la salida deseada comienzan a alinearse.
El nivel de RMS permanece constante pero, a medida que la onda sinusoidal de entrada se muestrea menos veces por ciclo, la forma de onda de salida del DAC contiene progresivamente más artefactos de muestreo de alta frecuencia. Debido a que el RMS es constante, lo fundamental de la onda sinusoidal debe reducirse a medida que f se acerca a la mitad de la frecuencia de muestreo. Esto es lo que sucede: -
TodoslosDAChacenesto;lamayoríadenosotroshemosvistolaformadelaseñalamedidaquefseacercaa\$\dfrac{f_S}{2}\$:-
Si totalizó los cuadrados de todas las muestras durante el período en que se alinearon (por conveniencia), luego, dividido por el número de muestras, tomó la raíz cuadrada y encontrará que el RMS es 0.7071, es decir, exactamente el mismo que el original. onda sinusoidal analógica, pero contiene energía de la primera imagen y posiblemente también imágenes de orden superior.
RMS = \ $ \ sqrt {\ dfrac {(+ 0.7071) ^ 2 + (0) ^ 2 + (-0.7071) ^ 2 + (1) ^ 2 + (-0.7071) ^ 2 + (0) ^ 2 + (+0.7071) ^ 2 + (-1) ^ 2} {8}} \ $
= \ $ \ sqrt {\ dfrac {4} {8}} \ $ = 0.7071 es decir, igual que una onda sinusoidal de amplitud máxima 1
Entonces, para contrarrestar este efecto, puede agregar lo que se llama un "filtro de compensación sinc" a la salida del DAC: el filtro intenta reducir la amplitud descendente del fundamental al contrarrestar la fórmula que se muestra en el diagrama superior.
Para diseñar un filtro (ejemplo que se muestra en la pregunta del OP), necesita conocer la frecuencia de muestreo que usa el sistema y ajustar el valor de C de manera apropiada. Aquí está la imagen completa: -
La imagen nos informa que la frecuencia de muestreo es de 10MHz y, si la frecuencia de muestreo para el sistema del OP era de 100MHz, C se reduciría a 8.2pF PERO no subestime los efectos que el op-amp puede causar y, sin saber La frecuencia de muestreo precisa utilizada no tiene sentido intentar diseñar y probar un sistema de compensación.