Me pregunto si, con el tiempo, el acelerómetro MEMS produce una salida peor que cuando es nuevo. Encontré este documento de investigación que reconoce que la temperatura afecta la salida del sensor, pero No hay conclusiones sobre la estabilidad de la lectura en el tiempo.
La respuesta corta es sí ; Cambian las características con el tiempo, y las he medido para hacerlo. Con el asesoramiento del fabricante del dispositivo con el que trabajo (en este caso, VTI, ahora una división de Murata), la mayor parte del envejecimiento se produce en el primer año.
En cuanto a lo que cambia, el más obvio es el sesgo. He visto una deriva de 3 mg a 10 mg en el SCA3100 , aunque la especificación máxima es de 30 mg durante su vida útil ( ya que el sesgo máximo se especifica en 70 mg, y el sesgo sobre la temperatura se especifica en 40 mg). Estas son especificaciones 6-sigma, por lo que pocos alcanzarán esa magnitud.
No hay un cambio obvio en la cantidad de ruido. Tome esta afirmación con un grano de sal: esta declaración es "a ojo" y no se basa correctamente en datos o pruebas estadísticas.
En lo que respecta a otras especificaciones (por ejemplo, factor de escala, sensibilidad en el eje transversal), no proporcioné datos, mediciones ni sensación intuitiva de la magnitud de la deriva, si es que hay alguna desviación apreciable.
Los otros dispositivos, por supuesto, tendrán características diferentes, pero no tengo datos para decir cuáles pueden ser. Sospecho que cuanto más barato sea el acelerómetro, más envejecerá con el tiempo, pero no tengo pruebas de ello.
También hay cambios a corto plazo ("in-run") en el sesgo, incluso si la temperatura es perfectamente constante. Si esto le interesa, busque acelerómetros de varianza de Alan en Google para comenzar con las características de deriva que debe buscar.
Estabilidad: hay muy pocos diseños de acelerómetros MEMS que tendrían su estabilidad mecánica afectada, hasta que, por supuesto, se rompan las vigas en voladizo. Pero eso es bastante notable.
Paramétricamente esperará algunos cambios a lo largo del tiempo. Puede ver que a medida que el haz se flexiona, las dislocaciones tenderán a migrar a áreas de mayor tensión, lo que afectará la conducción en esas áreas. Si bien están cuidadosamente diseñados y probados y envejecidos para minimizar la acumulación de fallas, nada es ideal, por lo que eventualmente debe esperar ver que los dispositivos comienzan a tener cambios en las constantes de resorte en las vigas y quizás incluso en algunas nano-fracturas. Están diseñados para durar millones o miles de millones de ciclos, pero eventualmente fallarán y el camino hacia el fracaso ciertamente tendrá cambios paramétricos, tal vez sea una mejor manera de decirlo.
Mucho depende del diseño de la parte MEMS y de la parte eléctrica. Y mientras uno puede decir en términos generales que existen ciertos mecanismos de falla, a menos que haya examinado un diseño específico en detalle, no puede estar seguro. Pero en términos generales sí, espere cambios.
Las cosas que esperaría en general son cambios en:
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