¿Aumentar la frecuencia de muestreo analógica del IOIO?

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En la página wiki de entrada analógica para Sparkfun IOIO (placa de desarrollo de Android), dice que los pines analógicos se muestrean a 1kHz. Esto es demasiado bajo para una serie de usos potencialmente interesantes, como la entrada de audio de múltiples canales, o el uso como un osciloscopio o sonda lógica. Pero la página wiki dice que la limitación física es de 500 kHz, lo que sería más que suficiente para algunos de esos usos. ¿Es posible modificar la generación actual de IOIO para aumentar la frecuencia de muestreo analógica?

    
pregunta naught101

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De grupo de usuarios de Google ioio 2011 este extracto:

... la línea que dice 

PR3   = 0x07CF;

En el archivo firmware/app_layer_v1/adc.c se debe cambiar a 

PR3 = <whatever sampling period you want>,

donde las unidades están en 0.5 micosegundos.

Es posible que desee hacer otro pequeño cambio: se llama al método AnalogInutImpl.setValue() cada vez que llega una muestra nueva de IOIO. Es posible que desee empujarlos en una cola para que ninguno se pierda en lugar de simplemente almacenar el valor más reciente, como en la implementación actual.

parece ser lo que se quiere.

Hay una discusión extensa que involucra esto en la dirección anterior.

Y similar aquí desde agosto de 2012

Y probablemente esto también - 2011 otra vez

    
respondido por el Russell McMahon

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