¿La prueba de continuidad del multímetro en el adaptador SOIC - DIP estropea mi IC?

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IC: L9637D para comunicación serie bi direccional ISO 9141. Multímetro: Mastech

Estoy montando un SOIC 8 IC en un adaptador (Soic para sumergir el adaptador normal), por lo que puedo montar el adaptador en una tabla de pan para su uso.

Quiero asegurarme de que los pines de mis pines SOIC estén sujetados correcta y firmemente, así que uso la prueba de continuidad entre el pin DIP (por ejemplo, el pin 1 DIP del adaptador) y el pin SOIC (pin 1 en este caso) , para ver si hay contacto en el Pin 8, y repita esto para 8 pines.

¿Este tipo de prueba dañará el IC? Obviamente, pensé que la corriente no fluiría directamente a través del IC en este caso. Estos circuitos integrados son increíblemente difíciles de obtener y el sentido común me dice que no, pero solo para estar seguro.

PS: no estoy probando entre pines del mismo SOIC, solo entre el adaptador y el SOIC. Gracias por la ayuda :)

    

1 respuesta

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La medición de continuidad no dañará el IC. La EDS todavía puede, así que tome las precauciones adecuadas. Dado que no especificó el IC, no puedo adivinar si la comprobación de cortocircuitos entre los pines representa un peligro; en la mayoría de los casos no lo hará.

    
respondido por el Cristobol Polychronopolis

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