¿Cómo se determinan / evalúan las reclamaciones de vida útil de componentes muy largas?

Uno de los métodos es, tal como lo has predicho, el de envejecimiento acelerado . Esto se usa cuando la vida útil de un producto es tal que no sería práctico realizar una prueba de vida útil normal (como los LED, que tienen MTBF de posiblemente 100,000 horas más). Aquí, uno enfatiza el elemento de prueba más allá de lo que siempre recibirá "en el campo" para lograr una vida útil más corta, de la que se pueden extrapolar los datos.

Una consideración importante en el uso del envejecimiento acelerado es el efecto no lineal de operar fuera del rango operativo recomendado de una parte. Esto se puede ilustrar con sistemas mecánicos, como ejecutar una caja de engranajes a 45,000 rpm en lugar de 15,000, y extrapolar los datos en tres. Sin embargo, supongamos que estás probando tu bombilla. El sentido común diría que ejecutarlo al doble de la corriente lo haría correr la mitad del tiempo; sin embargo, debido a esos efectos no lineales, es posible que la vida útil sea solo una cuarta parte de la corriente adecuada debido a la tensión adicional de la sobrevaloración. Una consideración importante es que el dispositivo de prueba / sujeto / elemento debe estar bien caracterizado tanto en su comportamiento de rango de operación previsto como no deseado antes de realizar la prueba.

Debido a esto, hay varios estudios ( un LOTO de ellos) sobre las diversas mejoras en las pruebas de envejecimiento acelerado en varios campos. Los LEDs vienen a la mente; photovoltaics son otra .

Como usted intuyó, la calificación de por vida generalmente implica realizar pruebas en condiciones de operación más severas de lo que permiten las especificaciones. Los modelos matemáticos, que pueden ser empíricos o derivados teóricamente, se utilizan para mapear el tiempo probado al fracaso a un conjunto práctico de condiciones. En dispositivos semiconductores, una conocida "ley" es ecuación de Black y la técnica general se llama HTOL testing . Como puede imaginar, puede ser difícil establecer la validez de las pruebas aceleradas, y algunos ingenieros recomendarían tomar los números que resultan con un grano de sal. En la industria de los semiconductores, se han creado muchos estándares y se siguen desarrollando.

Creo que básicamente respondiste tu pregunta. Dependiendo de la tecnología, los casos de prueba y los protocolos para estimar el tiempo de vida varían, por supuesto, pero en general miden la degradación a un cierto porcentaje y estiman el tiempo de vida total en función de los protocolos específicos de esa tecnología. Encontré esto con respecto a las estimaciones de vida útil del LED que mencionaste: enlace Espero que esto ayude.