En realidad, hay cierta fuga R en el transistor (efecto "Temprano"), por lo tanto, al apagar, la corriente del inductor desarrolla una gran subida de + ve desde un interruptor NPN de "lado bajo" apagado. (y pico negativo si se usó PNP "lado alto".)
Si la bobina L era de 200 mH e Ic era de 10 mA y una fuga de R = 1M, la constante de tiempo de decaimiento actual es T = L / R 0.2 mH / 1M = 0.2us = luego Vpk = LdI / dt 0.2H * 10mA /0.2us = 4kV.
Pero como Vce (max) es una ruptura similar a Zener, absorbería el pico, pero el alto dV / dt causa EMI, por lo que se conecta una pinza de diodo inverso al colector para alimentar la corriente con mucho menor ESR en una duración más larga definida por T = L / R (bobina) donde el diodo Rs o ESR es similar al transistor si ambos tienen la misma potencia nominal, ya que la resistencia de la bobina podría estar alrededor de 1k (dependiendo del relé de 12V) mientras que el transistor y el diodo ESR < < 10 Ohms @ 10mA.
El área encerrada de la corriente de la bobina a tierra y el bucle de diodo de corriente a Vcc y gnd se convierten en una antena de bucle para la radiación EMI, por lo que es importante recordar el acoplamiento cercano de estas pistas en el futuro para los problemas de ruido con la tapa de desacoplamiento cercana en Vcc.
Para el lector avanzado, incluí los detalles anteriores y la simulación siguiente con el diodo que se abrió durante el rastreo e incluí un zener interno de 100 V para el voltaje de ruptura de Vce.
Tras un examen detallado a continuación, se puede ver el estándar. existe diodo de pinza de vidrio, junto al relé.
Aunque mi reloj de 5 V fue de 1 kHz para mostrar que el tiempo de subida y el tiempo de caída son los mismos limitados por la relación L / R de la bobina del relé, uno esperaría que con ** sin carga * el relé duraría de 1e6 a 1e7 operaciones como máximo (Ref. OMRON) y fallaría después de 1e3 a 1e4 segundos y con una carga reactiva fallaría en minutos a esta velocidad con una formación de arco severa en los contactos. buzzzzz