Estoy planeando conectar un Allegro A1318 sensor de efecto Hall a un ADC de 12 bits en un NXP LPC1751 micro.
Mi aplicación es comparar diferencias relativas en campos magnéticos entre varios imanes. No necesito detectar un campo magnético cambiante, por lo que no necesito una alta frecuencia de muestreo. Necesito medir hasta 60 miliTesla (600 Gauss).
Algunas características de salida del sensor:
LaresistenciadesalidadeCCesbaja(porlogeneralmenosde1Ω)debidoalamplificadorinterno,creo,ycreoqueesoesalgobueno.
Laresistenciadecargadesalidaseespecificacomo4.7kΩcomomínimo.Creoqueestosignificaquelacargadebeserestevalor(omayor)paraquelasalidapermanezcaestable.Delmismomodo,lacapacidaddecargadebeserinferiora10nF.
Elcircuitodeaplicacióntípicomuestraeste\$R_L\$,juntoconuncondensadordesalidasugeridode4.7nF.
Las características del ADC:
diagramadebloquesdelainterfazADC:
\ $ C_ {ia} \ $ se especifica como máximo 15 pF. ¿Significa esto que el ADC "agregará" 15 pF de capacitancia a la línea durante el muestreo?
El ADC en el micro NXP se multiplexa entre muchas entradas, pero solo necesito usar una sola entrada. ¿Debo prestar atención al valor del condensador de muestreo dentro del micro? (Leí esta nota de la aplicación de TI en ADC multiplexados y creo que no No tengo que preocuparme realmente por el condensador de muestreo.)
Creo que puedo conectar el sensor, con \ $ R_L \ $ = 4.7 kΩ y \ $ C_L \ $ = 4.7 nF, directamente al ADC del microcontrolador sin usar un búfer. ¿Es esto correcto?
Follow-up: * Implementé este circuito sin ninguna resistencia de carga y funcionó bien. *