Modos de falla de memoria flash - Bloqueo de falla [cerrado]

Es posible que no se diga qué tipo de generación o dispositivo, etc., por lo que faltarán datos específicos. Algunos dispositivos están hechos con bloques adicionales y durante la prueba, si un bloque se encuentra mal, el otro bloque se enruta en su lugar a través de interruptores programables.

Los canales de enrutamiento para los bloques de sustitución pueden haber salido mal y, dependiendo de la ubicación de los bloques, también podrían explicar por qué el patrón que está viendo (2 bloques separados por uno).

La situación más probable es que el chip haya muerto o se haya dañado con ESD.

Dependiendo de cómo se implementen los códigos de corrección de errores, es posible que un chip detecte un número mayor de bits malos de lo que puede corregir de manera confiable. Si un chip detecta la existencia de errores incorregibles, hacer que devuelva todos los datos a cero puede ser más seguro que intentar corregir los datos, especialmente si el software intenta agregar su propia lógica de corrección de errores. Personalmente, creo que el enfoque "correcto" sería tener un medio estándar a través del cual un chip podría dar una indicación de la confiabilidad de los datos (el bloque está "limpio", el bloque tiene errores corregibles pero puede tolerar más, el bloque está cerca del límite para la corrección) errores, bloque tiene errores irrecuperables, etc.) pero en ausencia de tal característica, no creo que sea inusual que la transición de los bloques sea abrupta entre funcionar perfectamente y ser totalmente inútil.